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產(chǎn)品名稱：掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II
產(chǎn)品型號(hào)：
產(chǎn)品廠商：日立(Hitachi)

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簡單介紹：

上海鑄金分析儀器有限公司可為用戶提供掃描電子顯微鏡品牌、型號(hào)、價(jià)格相關(guān)技術(shù)交流。本頁面展示的是日立(Hitachi)掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II，含參考圖片、簡介、規(guī)格。相關(guān)信息僅供參考，如有相關(guān)儀器需求，可聯(lián)系鑄金交流。

詳情介紹：

FlexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測(cè)器，可在加速電壓20 kV下實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新的用戶界面，具有亮度和對(duì)焦自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。此外，還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP”，這個(gè)功能可彌補(bǔ)電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)直觀的視野移動(dòng)。
盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率
憑借特的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測(cè)器、低真空檢測(cè)器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時(shí)實(shí)現(xiàn)高的畫質(zhì)
全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實(shí)現(xiàn)高畫質(zhì)和高處理能力
全新的定位功能“SEM MAP”，支持觀察時(shí)的視野搜索和樣品定位
*1 設(shè)置到桌面上時(shí)，請(qǐng)將機(jī)體與電源盒分離
*2 選項(xiàng)

日立(Hitachi)掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II規(guī)格：

項(xiàng)目	內(nèi)容
分辨率*3	4.0 nm（二次電子像、加速電壓：20 kV、高真空模式） 15.0 nm（二次電子像、加速電壓：1 kV、高真空模式） 5.0 nm（背散射電子像、加速電壓：20 kV、低真空模式）
加速電壓	0.3 kV～20 kV
倍率	×6～×300,000 （照片倍率） ×16～×800,000 （顯示器顯示倍率）
低真空設(shè)置	6～100 Pa
電子槍	預(yù)對(duì)中鎢燈絲電子槍
樣品臺(tái)	3軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái) X：0～50 mm、Y：0～40 mm、Z：5～15 mm T：-15～90°、R：360° 大可觀察范圍：直徑64mm（R聯(lián)用）*4
大樣品尺寸	直徑80 mm（選配：直徑153mm）
大樣品高度	40 mm
尺寸	機(jī)體：450（寬度）×640（進(jìn)深）×690（高度） mm 電源盒：450（寬度）×640（進(jìn)深）×450（高度） mm
選項(xiàng)	高度低真空檢測(cè)器（UVD2.0）能量色散型X射線檢測(cè)器（EDS）
軟件	Multi Zigzag（連續(xù)視野圖像導(dǎo)入功能）

*PC、桌子、監(jiān)控器由客戶準(zhǔn)備

*3機(jī)體和電源盒連接時(shí)候

*4使用標(biāo)準(zhǔn)支架時(shí)

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產(chǎn)品名稱：掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II