國產(chǎn)全譜火花直讀光譜儀（CCD型）FS500
**、快捷的分析性能（僅15-30秒） ；
動態(tài)范圍：從ppm—% ；
開闊的火花臺以及特殊的小樣品夾具，**儀器適用于各種形狀的金屬樣品分析 ；
精 確：優(yōu)于1%的偏差 ；
優(yōu)異的氮、氧元素分析性能 ；
高穩(wěn)定性，高可靠性 ；
可選配多塊高性能CCD檢測器系統(tǒng)，根據(jù)應用需要*多達16塊CCD檢測器，增加儀器基體及元素分析升級的靈活性 ；
高等級標樣標定；
PC控制的變頻高能預火花（HEPS） ；
高精度的溫度與壓力控制 ；
上等軟件功能，操作便捷，易于掌握
適用于各種金屬材料分析
國產(chǎn)全譜火花直讀光譜儀（CCD型）FS500光學系統(tǒng)
巴邢-龍格架法，焦距：500 mm.
高性能全息衍射光柵，光柵刻線2700條/mm和3600條/mm
每塊CCD 3,648 像素，*大58,368 像素的分辨率(16 *3,648 像素)
譜線波長：130 - 800 nm由衍射光柵的選擇決定。光柵的選擇由制造商根據(jù)分析元素和分析程序來決定
密閉的真空光學室可以避免灰塵、光線的干擾
國產(chǎn)全譜火花直讀光譜儀（CCD型）FS500激發(fā)平臺
開放式的火花臺,可以分析重達20Kg的各種形狀的樣品
電*易于拆卸維護
氬氣吹掃火花臺，支持快速樣品更換
不同樣品的適配器可滿足各種樣品的需求（可選）
國產(chǎn)全譜火花直讀光譜儀（CCD型）FS500激發(fā)光源
全自動控制火花源
半導體控制放電激發(fā)
1 到 100 A等低氬氣消耗
使用便捷的樣品離子體電流
放電參數(shù)由密碼保護
特別的分析要求可有不同的激發(fā)參數(shù)
火花光源放電穩(wěn)定，不受供電系統(tǒng)波動的影響
激發(fā)參數(shù)由激發(fā)線和分析程序標定和控制
火花源可有多種參數(shù)設(shè)置
火花頻率: 200 到 to 1000 Hz (可控)
火花持續(xù)時間 10-10000 us (可控)
光譜儀控制系統(tǒng)和數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng)
電子系統(tǒng)具有微處理器控制的多通道積分和數(shù)據(jù)系統(tǒng)采集功能
高速16位模數(shù)轉(zhuǎn)換器
ISP混合信號Flash微控制器100MHz
多種連接源
高速讀出及高速USB接口支持快速數(shù)據(jù)控制與處理系統(tǒng)
*多16塊CCD模塊，由制造商根據(jù)應用情況選擇
國產(chǎn)全譜火花直讀光譜儀（CCD型）FS500WinLab10 分析軟件
計算每種元素的校正曲線需考慮到各種基體（參考線）
智能化 : 用一組標樣即可完成標準化
便于操作的用戶圖形界面
創(chuàng)建或修改分析程序
常用的操作功能鍵
可選擇的輸出方式 ( 強度，強度比，未校正的濃度，校正后的濃度等)
可選擇的濃度單位 ( ppm, % )
通用標準化
微型標準化
校正元素間的干擾
自動標準化
標準偏差和相對標準偏差功能
合金類型鑒定（UNI, ISO, DIN, EN, ASTM, JIS, BS, 等）
標樣庫
**標準物質(zhì)庫
牌號鑒定
支持C當量或其他參數(shù)的計算
可標記*出工作曲線范圍的元素分析結(jié)果
具有根據(jù)分析時間或激發(fā)次數(shù)自動再校正功能
統(tǒng)計功能軟件
統(tǒng)計計算
可打印所有激發(fā)結(jié)果或是*多100次的激發(fā)平均結(jié)果，及其標準偏差和相對標準偏差
硬盤存儲數(shù)據(jù)便于今后的研究分析，可連接外部計算機或中心系統(tǒng)
尺寸
尺寸(Dimension): PL93x W40 x H63 cm 重量(Weight): 約 100 Kg
電源
220V +/- 10%，單相（single phase），50/60 Hz， 10 A， 1.0 KVA
